tn系統(tǒng)和tt系統(tǒng)是什么意思 tn系統(tǒng)和tt系統(tǒng)的區(qū)別

tn系統(tǒng)和tt系統(tǒng)是晶圓制造領(lǐng)域常見(jiàn)的兩種測(cè)試系統(tǒng)。tn系統(tǒng)（TestNet）是優(yōu)勢(shì)在于高效的多機(jī)多站并行測(cè)試，主要應(yīng)用于簡(jiǎn)單的數(shù)字電路芯片測(cè)試；而tt系統(tǒng)（TeradyneTestStation）則適合復(fù)雜的系統(tǒng)集成電路(SoC)測(cè)試，可以進(jìn)行較為完整的模擬環(huán)境測(cè)試。

1.tn系統(tǒng)和tt系統(tǒng)的區(qū)別

tn系統(tǒng)和tt系統(tǒng)雖然都是用于測(cè)試半導(dǎo)體產(chǎn)品的，但它們之間還是存在明顯的區(qū)別：

• 應(yīng)用范圍：tn系統(tǒng)主要應(yīng)用于數(shù)字電路測(cè)試，而tt系統(tǒng)則用于SoC等復(fù)雜芯片的測(cè)試；
• 測(cè)試速度：由于采用了多機(jī)多站并行測(cè)試的方式，tn系統(tǒng)在測(cè)試速度方面更快；
• 測(cè)試精度：tt系統(tǒng)在測(cè)試精度方面比tn系統(tǒng)更高；
• 測(cè)試費(fèi)用：由于使用了更為先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)，tt系統(tǒng)的測(cè)試費(fèi)用相對(duì)較高。

2.tn系統(tǒng)和tt系統(tǒng)的發(fā)展歷程

tn系統(tǒng)和tt系統(tǒng)的發(fā)展歷程可以追溯到20世紀(jì)80年代初，當(dāng)時(shí)中國(guó)臺(tái)灣計(jì)算機(jī)芯片制造商對(duì)國(guó)外IC測(cè)試設(shè)備不能適用于芯片的情況感到頭痛，因此開(kāi)始著手研究自主測(cè)試技術(shù)。經(jīng)過(guò)多年的發(fā)展，現(xiàn)在tn系統(tǒng)和tt系統(tǒng)已經(jīng)成為晶圓級(jí)測(cè)試領(lǐng)域的主要測(cè)試設(shè)備之一。