ATE引腳電子器件的電平設(shè)置DAC校準(zhǔn)
摘要 本文提供一種校準(zhǔn)數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)的方法,專(zhuān)用于引腳電子器件驅(qū)動(dòng)器、比較器、負(fù)載、PMU和DPS。DAC具有差分非線性(DNL)和積分非線性(INL)等非線性特性,我們可以通過(guò)增益和偏置調(diào)整來(lái)盡可能降低這些特性。本文描述如何執(zhí)行這些校準(zhǔn),以改善電平設(shè)置性能。 簡(jiǎn)介 自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)描述用于一次對(duì)單個(gè)或多個(gè)器件執(zhí)行單次或一系列測(cè)試的測(cè)試儀器。不同類(lèi)型的ATE測(cè)試電子器件、硬件和半導(dǎo)體