半導(dǎo)體測(cè)試

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  • ITECH艾德克斯榮獲2025中國(guó)IC設(shè)計(jì)成就獎(jiǎng)
    全球領(lǐng)先的測(cè)試測(cè)量技術(shù)企業(yè)艾德克斯電子有限公司(ITECH)近日宣布,憑借在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域的創(chuàng)新技術(shù)與卓越服務(wù),公司榮膺2025中國(guó)IC設(shè)計(jì)成就獎(jiǎng)“年度杰出測(cè)試測(cè)量供應(yīng)商”。這一行業(yè)權(quán)威獎(jiǎng)項(xiàng)的獲得,標(biāo)志著ITECH在半導(dǎo)體測(cè)試細(xì)分市場(chǎng)的技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)力與產(chǎn)業(yè)貢獻(xiàn)再獲高度認(rèn)可。 技術(shù)引領(lǐng),賦能半導(dǎo)體全產(chǎn)業(yè)鏈 作為中國(guó)電子產(chǎn)業(yè)鏈上游服務(wù)的標(biāo)桿獎(jiǎng)項(xiàng),中國(guó)IC設(shè)計(jì)成就獎(jiǎng)旨在表彰推動(dòng)產(chǎn)業(yè)發(fā)展的技術(shù)創(chuàng)新者。ITEC
  • 全國(guó)幾萬(wàn)人的芯片測(cè)試工程師,如何養(yǎng)成?
    本期話題:?20年圍繞半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域深耕細(xì)作;豐富的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),為測(cè)試行業(yè)不斷輸送人才;國(guó)內(nèi)外半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域的差距與發(fā)展方向。
  • 復(fù)旦校友創(chuàng)業(yè),扎根張江13年,造出國(guó)產(chǎn)芯片測(cè)試機(jī)
    在上海張江,有這樣一家企業(yè):兩位測(cè)試?yán)媳鴰ьI(lǐng)團(tuán)隊(duì)默默耕耘,創(chuàng)業(yè)13年來(lái),逐漸成長(zhǎng)為一家國(guó)家級(jí)專精特新“小巨人”企業(yè),已服務(wù)過(guò)多家半導(dǎo)體龍頭公司,包括展銳、晶晨、華天、長(zhǎng)電、甬矽、偉測(cè)等,團(tuán)隊(duì)規(guī)模達(dá)350人,遍布上海、南通、無(wú)錫、韓國(guó)、馬來(lái)西亞,并在最近5年內(nèi)獲得了4輪融資。今年4月,她又在眾多創(chuàng)業(yè)公司中脫穎而出,榮獲“2023年度浦東新區(qū)創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)20強(qiáng)”。
    復(fù)旦校友創(chuàng)業(yè),扎根張江13年,造出國(guó)產(chǎn)芯片測(cè)試機(jī)
  • ATA-5420前置微小信號(hào)放大器如何進(jìn)行半導(dǎo)體測(cè)試
    半導(dǎo)體測(cè)試是電子行業(yè)中至關(guān)重要的環(huán)節(jié),它對(duì)于保證產(chǎn)品質(zhì)量、提高生產(chǎn)效率起著至關(guān)重要的作用。在半導(dǎo)體測(cè)試過(guò)程中,我們需要采用一系列的方法和原理來(lái)確保芯片的可靠性和性能穩(wěn)定性,而前置微小信號(hào)放大器在半導(dǎo)體測(cè)試中起著至關(guān)重要的作用。本文將介紹一些常用的半導(dǎo)體測(cè)試方法和原理。以及前置微小信號(hào)放大器的基本原理、測(cè)試方法和技巧,以幫助您更好地進(jìn)行半導(dǎo)體測(cè)試。 半導(dǎo)體測(cè)試的基本方法 一、靜態(tài)測(cè)試方法 1.電壓測(cè)
  • AI終端應(yīng)用元年到來(lái),史密斯英特康突破AI芯片測(cè)試挑戰(zhàn)
    2024年,文生視頻工具——Sora的誕生為已然熱鬧的AI 應(yīng)用領(lǐng)域又添了一把火。 近日,Google的人工智能(AI)研究實(shí)驗(yàn)室DeepMind表示,它正在開(kāi)發(fā)為視頻生成配樂(lè)的人工智能技術(shù)——V2A技術(shù)(”視頻到音頻”的縮寫(xiě))。這項(xiàng)技術(shù)被視為人工智能在媒體創(chuàng)作領(lǐng)域的重要進(jìn)展,旨在解決現(xiàn)有AI模型無(wú)法同時(shí)生成音效的問(wèn)題。 多家機(jī)構(gòu)給出的數(shù)據(jù)均指出,今年會(huì)是AI終端發(fā)展的元年。2024年,全球16%
    AI終端應(yīng)用元年到來(lái),史密斯英特康突破AI芯片測(cè)試挑戰(zhàn)