集成

加入交流群
掃碼加入
獲取工程師必備禮包
參與熱點資訊討論

設(shè)計資料

查看更多
  • CP測試、FT測試、WAT測試之間的區(qū)別
    集成路測試中的CP（Chip Probing）、FT（Final Test）和WAT（Wafer Acceptance Test）是制造過程中不可或缺的步驟，它們有著不同的目標(biāo)和測試對象。
    1.1萬
    2024/11/06
    CP測試、FT測試、WAT測試之間的區(qū)別
  • 集成的歷史和未來
    集成，integration，是指將不同的功能單元匯聚到一起，并能實現(xiàn)其特定功能的過程，集成電路、系統(tǒng)集成是比較常見的名詞。
  • 集成的層次和環(huán)節(jié)
    集成，integration，是指將不同的功能單元匯聚到一起，并能實現(xiàn)其特定功能的過程，集成多指人類的活動，集成電路、系統(tǒng)集成是比較常見的名詞。
  • 高集成度
    高集成度（High Integration）是指在微電子技術(shù)領(lǐng)域中，器件或系統(tǒng)能夠整合更多的功能模塊或元件于一個單一芯片或設(shè)備中的能力。高集成度的發(fā)展代表著電子技術(shù)的快速進步和創(chuàng)新，使得電子產(chǎn)品變得更小巧、更智能、更功能豐富，同時也降低了成本、功耗和提高了性能。
    3865
    01/15 11:35