• 正文
  • 推薦器件
  • 相關(guān)推薦
申請(qǐng)入駐 產(chǎn)業(yè)圖譜

晶圓制造CMP工程師面試干貨小結(jié)

2024/08/16
3443
加入交流群
掃碼加入
獲取工程師必備禮包
參與熱點(diǎn)資訊討論

感謝國(guó)內(nèi)某知名Fab廠工作6年的張工對(duì)CMP面試問題的解答。CMP(化學(xué)機(jī)械拋光)工藝是半導(dǎo)體制造中的關(guān)鍵步驟之一,它結(jié)合了化學(xué)腐蝕和機(jī)械磨削,旨在實(shí)現(xiàn)晶圓表面的全局平坦化。

一、基礎(chǔ)知識(shí)和原理

1、CMP工藝的基本原理和關(guān)鍵步驟:

CMP是一種將化學(xué)腐蝕和機(jī)械磨削結(jié)合在一起的工藝,用于去除晶圓表面的材料。基本原理是通過拋光墊和漿料在晶圓表面施加機(jī)械力,同時(shí)漿料中的化學(xué)成分與晶圓表面的材料發(fā)生化學(xué)反應(yīng),從而軟化和去除材料。關(guān)鍵步驟包括:

拋光墊與晶圓接觸:拋光墊通過機(jī)械磨削作用對(duì)晶圓表面進(jìn)行物理去除。

漿料供應(yīng):漿料提供化學(xué)腐蝕作用,同時(shí)潤(rùn)滑拋光墊與晶圓之間的接觸。

終點(diǎn)檢測(cè):實(shí)時(shí)監(jiān)控材料去除情況,確保達(dá)到預(yù)定的拋光終點(diǎn)。

2、化學(xué)和機(jī)械作用在CMP過程中的作用:

化學(xué)作用:漿料中的化學(xué)成分與晶圓材料發(fā)生反應(yīng),形成容易去除的表面層。

機(jī)械作用:拋光墊對(duì)晶圓表面施加壓力,結(jié)合漿料的磨料顆粒,機(jī)械去除已經(jīng)軟化的材料。

推薦器件

更多器件
器件型號(hào) 數(shù)量 器件廠商 器件描述 數(shù)據(jù)手冊(cè) ECAD模型 風(fēng)險(xiǎn)等級(jí) 參考價(jià)格 更多信息
650076-000 1 TE Connectivity D-436-38

ECAD模型

下載ECAD模型
$5.28 查看
SMBJ5.0A-E3/52 1 Vishay Intertechnologies DIODE 600 W, UNIDIRECTIONAL, SILICON, TVS DIODE, DO-214AA, ROHS COMPLIANT, PLASTIC, SMBJ, 2 PIN, Transient Suppressor

ECAD模型

下載ECAD模型
$0.35 查看
0533980671 1 Molex Board Connector, 6 Contact(s), 1 Row(s), Male, Straight, Surface Mount Terminal, ROHS AND REACH COMPLIANT

ECAD模型

下載ECAD模型
$1.89 查看

相關(guān)推薦