尼得科精密檢測(cè)科技將參展CPCA Show 2025

尼得科精密檢測(cè)科技株式會(huì)社（以下簡(jiǎn)稱“本公司”）將參展2025年3月24日（周一）～3月26日（周三）于上海國(guó)家會(huì)展中心舉辦的“CPCA Show 2025（2025上海國(guó)際電子電路展）”.

本次展會(huì)由中國(guó)電子行業(yè)協(xié)會(huì)主辦，是全球電子電路市場(chǎng)最專(zhuān)業(yè)的展會(huì)之一，展出包括用于各種電子、信息通信、控制設(shè)備的電子電路和裝配技術(shù)等。

在本公司的展位上，將展示并現(xiàn)場(chǎng)演示名為“STAR REC-M1”的、用于HDI電路板的電氣檢測(cè)裝置，適用于近年來(lái)隨著EV等的普及、市場(chǎng)需求日益增長(zhǎng)的HDI電路板的檢測(cè)。該設(shè)備是一款針對(duì)中端市場(chǎng)新開(kāi)發(fā)的型號(hào)，兼具高速高性能和性價(jià)比。此外，我們還將介紹新推出的電氣檢測(cè)、光學(xué)外觀檢測(cè)技術(shù)和高精度檢測(cè)夾具。歡迎蒞臨我們的展位。

〈參展概要〉

• 會(huì)期：2025年3月24（周一）～26日（周三）
• 會(huì)場(chǎng)：上海國(guó)家會(huì)展中心
• 展位：7D08
• 官網(wǎng)：http://www.cpcashow.com/en

〈主要展品〉

• HDI/PCB電路板用導(dǎo)通/短路檢測(cè)設(shè)備 “STAR REC系列”
• 半導(dǎo)體封裝用導(dǎo)通/短路檢測(cè)設(shè)備 “GATS系列”
• 高密度電路板用光學(xué)2D/3D檢測(cè)設(shè)備 “RSH系列”
• 高精度檢測(cè)夾具
• IGBT/SiC功率模塊檢測(cè)設(shè)備 “NATS系列”
• xEV電機(jī)測(cè)試臺(tái)“TDAS系列”
• xEV建模模擬器 “E-Transport Simulator”