局部清潔度怎么測？ZESTRON一招取勝

在高端電子制造行業(yè)，如航天航空、汽車電子、無線通訊、精密醫(yī)療等，產(chǎn)品的清潔度與其可靠性密切相關(guān)，生產(chǎn)商們對(duì)清潔度的品質(zhì)要求越來越嚴(yán)苛，而且對(duì)清潔度檢測也提出了更高的期望。近日，不少客戶找到ZESTRON尋找分析PCBA表面清潔度的解決方案，尤其是針對(duì)指定區(qū)域的殘留物可靠性風(fēng)險(xiǎn)分析。對(duì)于此類訴求，ZESTRON R&S（Reliability & Surfaces）總能快速響應(yīng)，最短可在15分鐘內(nèi)給出讓客戶滿意的答案。ZESTRON是如何做到的呢？

關(guān)于清潔度的檢測，業(yè)內(nèi)最早的標(biāo)準(zhǔn)是參照IPC-TM-650 2.3.25標(biāo)準(zhǔn)使用萃取溶液電阻率（ROSE）測試法，即用超純凈的萃取溶液從電子部件上提取工藝過程中留下的殘余物，通過測試提取液的電導(dǎo)率或電阻率評(píng)判表面清潔度。由于整個(gè)PCB/PCBA上的污染物的離子種類不同，測試中，統(tǒng)一用NaCl當(dāng)量離子濃度來反映離子污染的程度。但是，隨著電子產(chǎn)品小型化、復(fù)雜化，污染物更易殘留在PCB通孔、焊點(diǎn)周圍和元件下方。ROSE測試法的局限性日益顯露——測試整板上離子污染的平均值而忽視局部區(qū)域離子污染的殘留量導(dǎo)致由此引發(fā)的電氣性能風(fēng)險(xiǎn)難以被發(fā)現(xiàn)。所以IPC也對(duì)曾經(jīng)提出的ROSE測試中污染水平不應(yīng)該大于1.56μg/cm2氯化鈉當(dāng)量這一標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行了修訂，聲明ROSE測試不再是一項(xiàng)能夠充分評(píng)價(jià)可接受的離子污染水平的測試方案。而C3（Critical Contamination Control）局部離子污染測試儀的出現(xiàn)正是ROSE檢測的一個(gè)重要補(bǔ)充，且已成歐美企業(yè)判定產(chǎn)品離子濃度是否合格而公認(rèn)的一款測試儀器。

ZESTRON R&S在較短時(shí)間內(nèi)幫助客戶解決清潔度測試難題的手段之一正是C3分析。C3是一種快速定性的分析方法，可以對(duì)像焊盤和通孔這種局部區(qū)域精準(zhǔn)定位，實(shí)現(xiàn)精確測試。其原理是使用去離子水蒸汽從局部（0.1in2）測試點(diǎn)上將萃取樣品提取出，并在指定的離子污染限值的基礎(chǔ)上給出“CLEAN”或“DIRTY”的判定，從而判定該區(qū)域是否存在電化學(xué)失效如漏電、遷移或腐蝕等風(fēng)險(xiǎn)。以某汽車零部件供應(yīng)商的C3要求（60s, 500μA）為例，它表示測試開始后如果60s內(nèi)收集的萃取液的漏電流值不超過500μA，則可判定該測試區(qū)域?yàn)椤癈LEAN”，反之，則判定為“DIRTY”。

在ZESTRON北亞區(qū)分析實(shí)驗(yàn)室，客戶可完成的離子污染測試范圍涵蓋：PCB、PCBA等電子半成品及成品、IC、BGA等元器件產(chǎn)品，還可搭配離子色譜分析（IC）對(duì)C3所萃取的溶液樣品做進(jìn)一步的定性及定量分析，以識(shí)別污染物的類型和來源。ZESTRON R&S能夠?qū)υ嚇颖砻孢M(jìn)行全面而精準(zhǔn)的表征和評(píng)價(jià)，同時(shí)結(jié)合專業(yè)經(jīng)驗(yàn)為客戶提供詳細(xì)的分析報(bào)告并推薦糾正措施。