三次元測(cè)量?jī)x是一種可以測(cè)量物體表面坐標(biāo)數(shù)據(jù)的儀器,它利用光學(xué)或機(jī)械原理對(duì)物體進(jìn)行測(cè)量,可以獲得高精度、非接觸式的三維坐標(biāo)數(shù)據(jù)。與之相比,二次元測(cè)量?jī)x只能測(cè)量物體表面的平面坐標(biāo)數(shù)據(jù)。
1.三次元測(cè)量?jī)x的概述
三次元測(cè)量?jī)x是一種高精度測(cè)量設(shè)備,可用于工業(yè)制造、質(zhì)量控制、逆向工程等領(lǐng)域。常見的三次元測(cè)量?jī)x有光學(xué)三次元測(cè)量?jī)x和機(jī)械三次元測(cè)量?jī)x兩種。
2.三次元測(cè)量?jī)x與二次元測(cè)量?jī)x的區(qū)別
除了在測(cè)量數(shù)據(jù)上的差異,三次元測(cè)量?jī)x還可以測(cè)量比二次元測(cè)量?jī)x更為復(fù)雜的形狀,例如曲面、孔洞等特殊形狀。同時(shí),三次元測(cè)量?jī)x具有非接觸式測(cè)量的特點(diǎn),不會(huì)對(duì)被測(cè)物品造成任何損傷。