白光干涉中,通過樣品臺的移動,實現(xiàn)機械相移技術
一、基本原理 在白光干涉儀中,光源發(fā)出的光經(jīng)過擴束準直后,通過分光棱鏡被分成兩束相干光:一束作為參考光,經(jīng)過固定的光路到達干涉儀的接收屏;另一束作為待測光,經(jīng)過樣品臺后被反射或透射,再與參考光相遇產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。干涉條紋的形成取決于兩束光的相位差,而相位差則與它們經(jīng)過的光程差有關。 通過移動樣品臺,可以改變待測光線經(jīng)過的路徑長度,從而改變光程差和相位差。這種相位調(diào)制會導致干涉條紋的移動或變化,通過測