芯片測試

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芯片測試，設計初期系統(tǒng)級芯片測試。 SoC的基礎是深亞微米工藝，因此，對Soc器件的測試需要采用全新的方法。由于每個功能元件都有其自身的測試要求，設計工程師必須在設計初期就做出測試規(guī)劃。

芯片測試，設計初期系統(tǒng)級芯片測試。 SoC的基礎是深亞微米工藝，因此，對Soc器件的測試需要采用全新的方法。由于每個功能元件都有其自身的測試要求，設計工程師必須在設計初期就做出測試規(guī)劃。收起

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  • 全國幾萬人的芯片測試工程師，如何養(yǎng)成？
    本期話題：?20年圍繞半導體測試領域深耕細作；豐富的從業(yè)經(jīng)驗，為測試行業(yè)不斷輸送人才；國內外半導體測試領域的差距與發(fā)展方向。
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    在集成電路(IC)的測試過程中，Trim（微調）是指通過對芯片內部某些參數(shù)（如電壓、電流、頻率等）的調整，使其達到設計規(guī)格或性能要求的過程。由于現(xiàn)代芯片制造工藝中，隨著尺寸越來越小、集成度越來越高，芯片的各個參數(shù)存在一定的偏差，因此Trim操作能夠提高良率并優(yōu)化芯片性能，確保最終產(chǎn)品滿足高質量要求。
    1.1萬
    2024/11/14
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    器件的測試在集成電路（IC）行業(yè)中扮演著極其關鍵的角色。它需要非常精確地生成和測量電信號，尤其是微伏（μV）級電壓和納安（nA級電流。由于模擬器件相較于數(shù)字電路對信號波動更加敏感，因此，測試的精確度要求更高。
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  • 如何理解芯片測試中的DUT？
    理解并深入掌握DUT（Device Under Test，被測器件）在集成電路測試中的概念是非常關鍵的，因為DUT是整個測試過程中直接與ATE（自動化測試設備）交互的對象。
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