功率半導(dǎo)體器件功率循環(huán)測(cè)試與控制策略
功率循環(huán)測(cè)試是一種功率半導(dǎo)體器件的可靠性測(cè)試方法,被列為AEC-Q101與AQG-324等車(chē)規(guī)級(jí)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)的必測(cè)項(xiàng)目。與溫度循環(huán)測(cè)試相比,功率循環(huán)是通過(guò)器件內(nèi)部工作的芯片產(chǎn)生熱量,使得器件達(dá)到既定的溫度;而溫度循環(huán)則是通過(guò)外部環(huán)境強(qiáng)制被測(cè)試器件達(dá)到測(cè)試溫度。