• 正文
  • 推薦器件
  • 相關(guān)推薦
申請入駐 產(chǎn)業(yè)圖譜

AI深度學(xué)習(xí)/機(jī)器視覺在智能手表表帶的外觀缺陷檢測中的應(yīng)用

2023/12/09
1172
加入交流群
掃碼加入
獲取工程師必備禮包
參與熱點(diǎn)資訊討論

隨著智能手表等產(chǎn)品的迭代速度越來越快,傳統(tǒng)機(jī)器視覺不能自動學(xué)習(xí)瑕疵特征、難以分析無規(guī)律圖像、面對海量數(shù)據(jù)無法提高檢測精度等檢測局限性問題越來越突出,于是,東聲智能開始探索將人工智能深度學(xué)習(xí)技術(shù)應(yīng)用到3C消費(fèi)品的檢測中。

? ? 檢測項目-

智能手表表帶的外觀缺陷檢測

? ? 檢測難點(diǎn)-

該項目存在以下幾個難點(diǎn),缺陷種類多,包括劃痕、凹陷、污漬等;表帶材質(zhì)多樣化,包括金屬、橡膠、尼龍等;缺陷數(shù)據(jù)量少;對算法和模型的效率要求高;傳統(tǒng)的檢測算法滿足不了現(xiàn)有的檢測需求。

? ? 東聲AI解決方案-

基于HanddleAI軟件平臺的的缺陷分割算法,結(jié)合定制的光學(xué)方案,從上面、底部以及側(cè)面3個方向抓取表帶的圖像,我們可以得到表帶寬度、厚度、顏色及編織情況,因而準(zhǔn)確抓取缺陷位置。

? ? 檢測內(nèi)容-

異色、顆粒、粘膜、亮點(diǎn)、百痕、黑痕、異色、臟污、雜質(zhì)、過摩、毛邊、刮傷、牛角缺料等。

Web:www.dongshengai.com

Tel:0512-68187631

推薦器件

更多器件
器件型號 數(shù)量 器件廠商 器件描述 數(shù)據(jù)手冊 ECAD模型 風(fēng)險等級 參考價格 更多信息
SN74HC245DW 1 Texas Instruments Octal Bus Transceivers With 3-State Outputs 20-SOIC -40 to 85

ECAD模型

下載ECAD模型
$0.45 查看
OPI1264A 1 Optotek Ltd Transistor Output Optocoupler, 1-Element, 10000V Isolation
$2.9 查看
HFBR-2528Z 1 Broadcom Limited Receiver, 635nm Min, 662nm Max, 10Mbps, Through Hole Mount, ROHS COMPLIANT PACKAGE
$31.15 查看

相關(guān)推薦