• 高逼真合成數(shù)據(jù)助力智駕“看得更準(zhǔn)、學(xué)得更快”
    自動(dòng)駕駛研發(fā)如何高效獲取海量訓(xùn)練數(shù)據(jù)?高逼真合成數(shù)據(jù)技術(shù)正在提供新解法。通過(guò)仿真平臺(tái)可生成多場(chǎng)景、多傳感器的精準(zhǔn)標(biāo)注數(shù)據(jù)。文章詳解如何構(gòu)建符合nuScenes標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)據(jù)集,覆蓋復(fù)雜交通場(chǎng)景,為感知模型訓(xùn)練提供高效、可控的數(shù)據(jù)支持。
    高逼真合成數(shù)據(jù)助力智駕“看得更準(zhǔn)、學(xué)得更快”
  • 從直流到高頻,半導(dǎo)體材料電特性參數(shù)的全面表征與測(cè)量
    從鍺晶體管到 5G 芯片,半導(dǎo)體材料的每一次突破都在重塑人類科技史。Si材料的規(guī)?;瘧?yīng)用開(kāi)啟了信息時(shí)代,SiC/GaN等寬禁帶材料則推動(dòng)新能源革命。這些進(jìn)步的背后,材料測(cè)試技術(shù)始終扮演著 "科技眼睛" 的角色,它不僅能檢測(cè)材料導(dǎo)電性、絕緣性等基礎(chǔ)性能,更能揭示原子尺度的微觀奧秘,成為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新的核心驅(qū)動(dòng)力。
    從直流到高頻,半導(dǎo)體材料電特性參數(shù)的全面表征與測(cè)量
  • 深圳南柯電子 顯示器EMC電磁兼容性測(cè)試整改 測(cè)試到合規(guī)的指南
    在電子設(shè)備日益普及的今天,電磁兼容性(EMC)已成為衡量產(chǎn)品性能與合規(guī)性的核心指標(biāo)之一。顯示器作為信息交互的關(guān)鍵終端,其EMC性能不僅影響設(shè)備自身的穩(wěn)定性,更關(guān)乎周邊電子設(shè)備的正常運(yùn)行。
  • 接觸回路電阻測(cè)試儀用途及操作 凱迪正大KDHL 100
    武漢凱迪正大KDHL-100 回路電阻測(cè)試儀是針對(duì)電力系統(tǒng)中高壓開(kāi)關(guān)接觸電阻測(cè)量設(shè)計(jì)的設(shè)備,采用直流 100A 測(cè)試電流(符合電力部標(biāo)準(zhǔn)要求),可準(zhǔn)確測(cè)量 1—1999.9μΩ 的回路電阻與接觸電阻(分辨率 0.1μΩ,精度 0.5%),支持?jǐn)?shù)字顯示。 KDHL-100 解決了常規(guī)電橋測(cè)試電流不足、受氧化層影響導(dǎo)致測(cè)量偏差的問(wèn)題,適用于電力現(xiàn)場(chǎng)維修及開(kāi)關(guān)廠測(cè)試。
  • 泡沫緩沖性能沖擊試驗(yàn)機(jī)在泡棉測(cè)試中的應(yīng)用與技術(shù)解析
    泡棉廣泛應(yīng)用于包裝、汽車內(nèi)飾、電子防護(hù)等領(lǐng)域,其緩沖性能關(guān)乎產(chǎn)品安全。泡沫緩沖性能沖擊試驗(yàn)機(jī)通過(guò)模擬實(shí)際沖擊場(chǎng)景,為泡棉性能研究、質(zhì)量把控及應(yīng)用優(yōu)化提供關(guān)鍵數(shù)據(jù),在泡棉產(chǎn)業(yè)中作用重大。 泡棉特性與緩沖原理 泡棉特性 泡棉一般具有低密度、高彈性和良好柔韌性。常見(jiàn)的聚氨酯、聚乙烯、聚苯乙烯泡棉,因化學(xué)結(jié)構(gòu)與工藝不同各有特性。比如聚氨酯泡棉耐磨損、抗撕裂;聚乙烯泡棉防潮防水佳;聚苯乙烯泡棉成本低且有一定
  • 信號(hào)完整性SI基礎(chǔ)知識(shí)介紹(一)
    下圖展示了電壓階躍是如何沿著印刷電路板(PCB)走線傳播的。在這個(gè)示例中,我們看到一條走線通過(guò) PCB 板的介電材料與接地回流平面分隔開(kāi)來(lái)。當(dāng)信號(hào)沿著走線傳播時(shí),變化的電場(chǎng)和磁場(chǎng)會(huì)跟隨波前。電磁波以 1.8×10? m/s的極快速度傳播,而電子從正極到負(fù)極的實(shí)際傳導(dǎo)速度卻非常慢,僅為 0.01m/s。
    信號(hào)完整性SI基礎(chǔ)知識(shí)介紹(一)
  • 學(xué)子專區(qū)論壇- ADALM2000實(shí)驗(yàn):脈寬調(diào)制
    作者:Antoniu Miclaus,系統(tǒng)應(yīng)用工程師 目標(biāo) 在此實(shí)驗(yàn)中,我們將研究脈寬調(diào)制及其在各種應(yīng)用中的使用情況。 脈寬調(diào)制(PWM)是一種將模擬信號(hào)編碼為單個(gè)數(shù)字位的方法。PWM信號(hào)由定義其行為的兩個(gè)主要分量組成:占空比和頻率。 它通過(guò)將消息編碼成脈沖信號(hào)來(lái)傳輸信息,可用于電機(jī)等電子設(shè)備的功率控制,也可用作光伏太陽(yáng)能電池充電器的主要算法。 占空比描述了信號(hào)處于高電平(開(kāi)啟)狀態(tài)的時(shí)間占完成一
    學(xué)子專區(qū)論壇- ADALM2000實(shí)驗(yàn):脈寬調(diào)制
  • 新型離散周期變換方法如何處理生理信號(hào)
    作者:Dennis E. Bahr博士,Bahr Management, Inc.總裁兼生物醫(yī)學(xué)工程師 Marc Smith,首席工程師 摘要 本文介紹了新型滑動(dòng)離散周期變換(DPT)算法,可設(shè)計(jì)用于處理生理信號(hào),尤其是脈搏血氧儀采集的光電容積脈搏波(PPG)信號(hào)。該算法采用正弦基函數(shù)進(jìn)行周期域分析,可解決隨機(jī)噪聲和非平穩(wěn)數(shù)據(jù)等難題。DPT在MATLAB?中作為滑動(dòng)變換實(shí)現(xiàn),結(jié)合了自相關(guān)與系綜平均
    新型離散周期變換方法如何處理生理信號(hào)
  • CMOS可靠性測(cè)試新趨勢(shì):脈沖技術(shù)如何助力AI、5G、HPC?
    在半導(dǎo)體領(lǐng)域,隨著技術(shù)的不斷演進(jìn),對(duì)CMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)可靠性的要求日益提高。特別是在人工智能(AI)、5G通信和高性能計(jì)算(HPC)等前沿技術(shù)的推動(dòng)下,傳統(tǒng)的可靠性測(cè)試方法已難以滿足需求。本文將探討脈沖技術(shù)在CMOS可靠性測(cè)試中的應(yīng)用,以及它如何助力這些新興技術(shù)的發(fā)展。 引言 對(duì)于研究半導(dǎo)體電荷捕獲和退化行為而言,交流或脈沖應(yīng)力是傳統(tǒng)直流應(yīng)力測(cè)試的有力補(bǔ)充。在NBTI(負(fù)偏置溫度不穩(wěn)
    CMOS可靠性測(cè)試新趨勢(shì):脈沖技術(shù)如何助力AI、5G、HPC?
  • 多模態(tài)自動(dòng)駕駛混合渲染HRMAD:將NeRF和3DGS進(jìn)行感知驗(yàn)證和端到端AD測(cè)試
    多模態(tài)自動(dòng)駕駛混合渲染HRMAD,融合NeRF與3DGS技術(shù),實(shí)現(xiàn)超10萬(wàn)㎡場(chǎng)景重建,多傳感器實(shí)時(shí)輸出,仿真更接近真實(shí)數(shù)據(jù)!然而,如何用高保真仿真場(chǎng)景快速驗(yàn)證自動(dòng)駕駛算法?
    多模態(tài)自動(dòng)駕駛混合渲染HRMAD:將NeRF和3DGS進(jìn)行感知驗(yàn)證和端到端AD測(cè)試
  • 發(fā)現(xiàn) SW 大小波,應(yīng)該聯(lián)想到什么?應(yīng)排查什么?
    大家在測(cè)試電源電路時(shí),有時(shí)會(huì)碰到輸出電壓異常、輸出紋波過(guò)大等情況,此時(shí)通常會(huì)排查 SW 信號(hào)來(lái)判斷電路工作是否正常,異常狀況下 SW 波形會(huì)呈現(xiàn)大小波現(xiàn)象。 今天我們就來(lái)一起看下,SW 出現(xiàn)大小波的常見(jiàn)原因有哪些?應(yīng)該排查什么? 01 SW 大小波現(xiàn)象簡(jiǎn)介 SW 代表 BUCK 電路中的開(kāi)關(guān)節(jié)點(diǎn)。在標(biāo)準(zhǔn)工作條件下,SW 點(diǎn)的波形表現(xiàn)為固定頻率的方波。 圖1:正常工況下的SW波形 然而,在某些異常情
    發(fā)現(xiàn) SW 大小波,應(yīng)該聯(lián)想到什么?應(yīng)排查什么?
  • 輻射雜散發(fā)射測(cè)試、分析與整改
    歐盟CE認(rèn)證測(cè)試中包含RSE(Radiation Spurious Emission)測(cè)試,屬于EMC測(cè)試的一部分,用于評(píng)估無(wú)線通信設(shè)備或發(fā)射設(shè)備在其工作頻率范圍外產(chǎn)生的不希望的電磁輻射。這些不希望的輻射被稱為"雜散",因?yàn)樗鼈儾辉谠O(shè)備的預(yù)期工作頻率范圍內(nèi)。
    輻射雜散發(fā)射測(cè)試、分析與整改
  • 信號(hào)完整性的守護(hù)者:背鉆技術(shù)
    背鉆(Back Drilling)是高速PCB設(shè)計(jì)中的一項(xiàng)關(guān)鍵工藝技術(shù),特別在EDA(電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化)行業(yè)中得到廣泛應(yīng)用。隨著信號(hào)速率不斷提高,這項(xiàng)技術(shù)變得越來(lái)越重要。
    信號(hào)完整性的守護(hù)者:背鉆技術(shù)
  • 方案分享 | AVM合成數(shù)據(jù)仿真驗(yàn)證方案
    AVM 合成數(shù)據(jù)仿真驗(yàn)證技術(shù)為自動(dòng)駕駛環(huán)境感知發(fā)展帶來(lái)助力,可借助仿真軟件配置傳感器、搭建環(huán)境、處理圖像,生成 AVM 合成數(shù)據(jù),有效加速算法驗(yàn)證。然而,如何利用仿真軟件優(yōu)化傳感器外參與多場(chǎng)景驗(yàn)證,顯著提升AVM算法表現(xiàn)?本文將分享如何利用自動(dòng)駕駛仿真軟件配置仿真?zhèn)鞲衅髋c搭建仿真環(huán)境,并對(duì)腳本進(jìn)行修改,優(yōu)化和驗(yàn)證4個(gè)魚(yú)眼相機(jī)生成AVM(Around View Monitor)合成數(shù)據(jù)的流程。通過(guò)這一過(guò)程,一同深入體驗(yàn)仿真軟件的應(yīng)用潛力!
    方案分享 | AVM合成數(shù)據(jù)仿真驗(yàn)證方案
  • 【車內(nèi)消費(fèi)類接口測(cè)試】 泰克助力MIPI總線技術(shù)的測(cè)試與多場(chǎng)景應(yīng)用
    隨著智能汽車、物聯(lián)網(wǎng)和移動(dòng)設(shè)備的快速發(fā)展,MIPI總線技術(shù)已經(jīng)成為現(xiàn)代電子系統(tǒng)中不可或缺的一部分。MIPI(Mobile Industry Processor Interface)協(xié)會(huì)自2003年成立以來(lái),一直致力于開(kāi)發(fā)移動(dòng)及相關(guān)產(chǎn)品的接口標(biāo)準(zhǔn)。如今,MIPI標(biāo)準(zhǔn)不僅在智能手機(jī)中廣泛應(yīng)用,還在汽車、物聯(lián)網(wǎng)等領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。本文將介紹MIPI總線的核心技術(shù)、應(yīng)用場(chǎng)景以及測(cè)試解決方案。 圖1. M
    【車內(nèi)消費(fèi)類接口測(cè)試】 泰克助力MIPI總線技術(shù)的測(cè)試與多場(chǎng)景應(yīng)用
  • 深入了解電池管理系統(tǒng)的開(kāi)路檢測(cè)
    作者:Frank Zhang,應(yīng)用工程師 摘要 開(kāi)路檢測(cè)功能對(duì)于安全可靠地運(yùn)行電池管理系統(tǒng)(BMS)起著至關(guān)重要的作用。鑒于其重要性,我們建議對(duì)BMS感興趣或會(huì)參與BMS設(shè)計(jì)的人員花時(shí)間了解這項(xiàng)功能。本文以ADI公司的電芯監(jiān)控器為例,詳細(xì)討論了BMS電路在與外部電芯連接后,如何利用算法準(zhǔn)確識(shí)別幾乎所有開(kāi)路情況。文中關(guān)于開(kāi)路檢測(cè)算法的討論,目的是讓讀者更深入地了解這個(gè)BMS功能。本文提供的開(kāi)路檢測(cè)偽
    深入了解電池管理系統(tǒng)的開(kāi)路檢測(cè)
  • 使用示波器對(duì)三相電機(jī)驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行測(cè)量(下)
    輸入(線路)測(cè)量 大多數(shù)工業(yè)和重型商用變頻驅(qū)動(dòng)器都采用三相輸入。較小的驅(qū)動(dòng)器可能使用單相線電壓。特別是在電動(dòng)汽車和其他電池供電的應(yīng)用中,驅(qū)動(dòng)器通常采用直流供電。IMDA電源分析軟件支持所有這些配置(參見(jiàn)上集的“接線配置”)。在IMDA測(cè)量包中,電能質(zhì)量測(cè)量組和諧波測(cè)量組用于計(jì)算驅(qū)動(dòng)器的功耗以及驅(qū)動(dòng)器對(duì)配電系統(tǒng)的預(yù)期影響。 電能質(zhì)量 電能質(zhì)量測(cè)量組包括表征驅(qū)動(dòng)器功耗的測(cè)量。這些測(cè)量也可以用于驅(qū)動(dòng)器的
    使用示波器對(duì)三相電機(jī)驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行測(cè)量(下)
  • 借助即用型平臺(tái),高效設(shè)計(jì)符合標(biāo)準(zhǔn)的電能質(zhì)量測(cè)量?jī)x表
    本文介紹如何借助即用型平臺(tái)加快開(kāi)發(fā)速度,高效設(shè)計(jì)符合標(biāo)準(zhǔn)的電能質(zhì)量(PQ)測(cè)量?jī)x表。文中詳細(xì)探討設(shè)計(jì)A類和S類電能表的不同解決方案,包括新的S類電能質(zhì)量測(cè)量集成解決方案,該方案可大幅縮短電能質(zhì)量監(jiān)測(cè)產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)時(shí)間并降低成本。
  • 康謀分享 | 3DGS:革新自動(dòng)駕駛仿真場(chǎng)景重建的關(guān)鍵技術(shù)
    3DGS技術(shù)為自動(dòng)駕駛仿真場(chǎng)景重建帶來(lái)突破,通過(guò)3D高斯點(diǎn)精確表達(dá)復(fù)雜場(chǎng)景的幾何和光照特性,顯著提升渲染速度與圖像質(zhì)量。康謀aiSim平臺(tái)結(jié)合3DGS,提供高保真虛擬環(huán)境與動(dòng)態(tài)交通流模擬,優(yōu)化自動(dòng)駕駛測(cè)試效率與精度
    康謀分享 | 3DGS:革新自動(dòng)駕駛仿真場(chǎng)景重建的關(guān)鍵技術(shù)
  • EMI 噪聲源的分析與優(yōu)化方法
    良好的 EMI 是板級(jí) EMI 設(shè)計(jì)和芯片 EMI 設(shè)計(jì)結(jié)合的結(jié)果。許多工程師對(duì)板級(jí) EMI 的降噪接觸較多,也比較了解,而對(duì)于芯片設(shè)計(jì)中的 EMI 優(yōu)化方法比較陌生。 今天,我們將以一個(gè)典型的 Buck 電路為例,首先基于 EMI 模型,分析其噪聲源的頻譜,并以此介紹,在芯片設(shè)計(jì)中,我們?nèi)绾斡嗅槍?duì)性地優(yōu)化 EMI 噪聲。 一、Buck 變換器的傳導(dǎo) EMI 模型介紹 我們知道,電力電子系統(tǒng)中,半
    EMI 噪聲源的分析與優(yōu)化方法

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