詳解USB接口驗(yàn)證的那些坑，帶著你的問題來現(xiàn)場Debug

作為這個(gè)星球上被制造和被使用最多的數(shù)字接口，USB自有其工程上的過人之處，也有其簡潔優(yōu)雅之美。由于USB協(xié)會(huì)和芯片廠商的做出的大量努力，硬件系統(tǒng)設(shè)計(jì)者得以不必專職關(guān)注USB接口的設(shè)計(jì)測試和認(rèn)證，所以遇到問題的時(shí)候往往會(huì)感覺其現(xiàn)象缺少相關(guān)性和充滿不確定性，失之于系統(tǒng)理解USB架構(gòu)的簡潔嚴(yán)謹(jǐn)，so，帶著你的問題來現(xiàn)場吧，一起debug！

時(shí)間：2016年12月10日 13:30——16:00（摩爾吧同步直播）

地點(diǎn)：蘇州市工業(yè)園區(qū)仁愛路99號(hào)D1座201室摩爾吧孵化器（點(diǎn)擊報(bào)名線下活動(dòng)）

主講內(nèi)容：

1.USB2.0 compliance test introduction

2.USB2.0 Electrical test report解讀

3.USB-IF認(rèn)證項(xiàng)目之外的USB2.0測試

4.USB3.0 compliance test introduction

5.USB3.0 Electrical test report解讀

6.USB2.0/3.0 interoperability test解讀

7.BUG分析1：USB2.0 eye fail

8.BUG分析2：USB2.0 enumeration random fail

9.TypeC 接口介紹

10.現(xiàn)場提問及討論環(huán)節(jié)

主講嘉賓：

劉沖

東南大學(xué)碩士，曾在某科研機(jī)構(gòu)從事系統(tǒng)工程師工作，后進(jìn)入瑞晟微電子（蘇州）有限公司，任高級(jí)硬件工程師，主要從事USB相關(guān)IC產(chǎn)品的開發(fā)，曾撰寫申請了USB方面的三個(gè)專利。負(fù)責(zé)過USB芯片產(chǎn)品開發(fā)相關(guān)的平臺(tái)設(shè)計(jì)、相關(guān)IC驗(yàn)證方案設(shè)計(jì)及實(shí)操、USB-IF認(rèn)證、USB相容性測試、相關(guān)IC穩(wěn)定性/一致性自動(dòng)化測試設(shè)計(jì)、相關(guān)IC量產(chǎn)測試設(shè)計(jì)、相關(guān)IC封裝設(shè)計(jì)。撰寫了相關(guān)IC的Datasheet，user manual，test report文檔。

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