芯片驗(yàn)證

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  • FAB廠可靠性考核如何理解？以90納米技術(shù)節(jié)點(diǎn)為例
    可靠性考核是芯片量產(chǎn)前的"極限壓力測(cè)試"，本質(zhì)是驗(yàn)證芯片在極端環(huán)境下的生存能力與性能衰減規(guī)律。對(duì)于90納米技術(shù)節(jié)點(diǎn)，由于器件尺寸縮小帶來(lái)的量子隧穿效應(yīng)、熱載流子注入等問(wèn)題加劇，可靠性考核需建立更嚴(yán)苛的評(píng)估體系，如同檢驗(yàn)汽車(chē)發(fā)動(dòng)機(jī)能否在沙漠高溫和極地嚴(yán)寒中穩(wěn)定運(yùn)行。
  • 一文詳解芯片驗(yàn)證工程師主要工作任務(wù)、工作工具和方法
    芯片設(shè)計(jì)完成后，驗(yàn)證工程師的任務(wù)就是檢查電路是否按設(shè)計(jì)要求正確工作。他們需要通過(guò)各種驗(yàn)證手段，確認(rèn)芯片的功能、性能、時(shí)序等方面沒(méi)有問(wèn)題。以下是他們的主要任務(wù)：
  • 漲薪50%！驗(yàn)證工程師的進(jìn)階之路！
    簡(jiǎn)單介紹一下自己，我是22屆的成都某雙非院校的電子信息畢業(yè)生?，F(xiàn)在從事驗(yàn)證已經(jīng)快兩年，這里想和大家分享一些入行驗(yàn)證后的經(jīng)驗(yàn)和心得?；叵氘?dāng)初快畢業(yè)了，對(duì)自己何去何從很是迷茫，電子信息本科學(xué)的東西突出一個(gè)泛泛又雜，幾乎沒(méi)有一點(diǎn)是精通的，在就業(yè)市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力非常小。我有幸通過(guò)IC修真院了解到IC行業(yè)當(dāng)時(shí)的火爆，并成功搭上了IC這條船。
    漲薪50%！驗(yàn)證工程師的進(jìn)階之路！
  • 如何寫(xiě)出更牛的驗(yàn)證激勵(lì)
    芯片驗(yàn)證是為了發(fā)現(xiàn)芯片中的錯(cuò)誤而執(zhí)行的過(guò)程，它是一個(gè)破壞性的過(guò)程。完備的驗(yàn)證激勵(lì)可以更有效地發(fā)現(xiàn)芯片錯(cuò)誤，進(jìn)而縮短驗(yàn)證周期。合格的驗(yàn)證激勵(lì)必須能產(chǎn)生所有可能的驗(yàn)證場(chǎng)景(完備性)，包括合法和非法的場(chǎng)景，并保持最大的可擴(kuò)展性和可控性。
    如何寫(xiě)出更牛的驗(yàn)證激勵(lì)
  • 如何寫(xiě)出更系統(tǒng)的驗(yàn)證檢查器
    芯片驗(yàn)證是為了發(fā)現(xiàn)芯片中的錯(cuò)誤而執(zhí)行的過(guò)程，它是一個(gè)破壞性的過(guò)程。有效激勵(lì)灌入待測(cè)模塊后，需要判斷出不符合功能描述的行為。檢查器(Checker)就是用于查看待測(cè)模塊是否按照功能描述文檔做出期望的行為，識(shí)別出所有的設(shè)計(jì)缺陷。
    如何寫(xiě)出更系統(tǒng)的驗(yàn)證檢查器
  • 設(shè)計(jì)模式在芯片驗(yàn)證中的應(yīng)用——狀態(tài)
    狀態(tài)模式是一種行為設(shè)計(jì)模式， 讓你能在一個(gè)對(duì)象的內(nèi)部狀態(tài)變化時(shí)改變其行為， 使其看上去就像改變了自身所屬的類(lèi)一樣。
    設(shè)計(jì)模式在芯片驗(yàn)證中的應(yīng)用——狀態(tài)
  • 什么是芯片驗(yàn)證 芯片驗(yàn)證是做什么的 數(shù)字芯片驗(yàn)證流程
    芯片驗(yàn)證就是采用相應(yīng)的驗(yàn)證語(yǔ)言，驗(yàn)證工具，驗(yàn)證方法，在芯片生產(chǎn)之前驗(yàn)證芯片設(shè)計(jì)是否符合芯片定義的需求規(guī)格，是否已經(jīng)完全釋放了風(fēng)險(xiǎn)，發(fā)現(xiàn)并更正了所有的缺陷，站在全流程的角度，它是一種防范于未然的措施。
  • 設(shè)計(jì)模式在芯片驗(yàn)證中的應(yīng)用——策略
    在RTL設(shè)計(jì)中可能包含了復(fù)雜的多個(gè)訪問(wèn)仲裁邏輯，使用了多種算法來(lái)確定訪問(wèn)內(nèi)存優(yōu)先級(jí)順序，包括規(guī)定優(yōu)先級(jí)、輪詢(xún)仲裁等等。仲裁器的輸入是多個(gè)請(qǐng)求者信號(hào)，以及選擇要使用的仲裁算法的配置。根據(jù)選擇的類(lèi)型和請(qǐng)求者信號(hào)的值，仲裁器確定具有最高優(yōu)先級(jí)的請(qǐng)求源，并授予它訪問(wèn)內(nèi)存的權(quán)利。如下圖所示，仲裁類(lèi)型可以動(dòng)態(tài)配置，這就是為什么該特性適合使用策略設(shè)計(jì)模式進(jìn)行建模。在該模式中，可以在testcase運(yùn)行中從提供的一系列算法中選擇要應(yīng)用的特定算法。此外，還可以直接為仲裁添加新算法，而無(wú)需修改之前代碼。值得注意的是，之前講到的裝飾器設(shè)計(jì)模式也可用于動(dòng)態(tài)更改行為，關(guān)鍵的區(qū)別在于，裝飾器模式在原功能基礎(chǔ)上添加額外的功能，而策略者模式直接更改原先功能。總得來(lái)說(shuō)，策略模式可以讓你改變對(duì)象的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，裝飾器模式允許你更改對(duì)象的皮膚。
    設(shè)計(jì)模式在芯片驗(yàn)證中的應(yīng)用——策略
  • 設(shè)計(jì)模式在芯片驗(yàn)證中的應(yīng)用——單例
    單例模式(Singleton)是一種創(chuàng)建型設(shè)計(jì)模式，能夠保證一個(gè)類(lèi)只有一個(gè)實(shí)例， 并提供一個(gè)訪問(wèn)該實(shí)例的全局節(jié)點(diǎn)。驗(yàn)證環(huán)境配置(configuration)類(lèi)、超時(shí)(timeout)處理類(lèi)等可以使用單例實(shí)現(xiàn)。比如說(shuō)驗(yàn)證環(huán)境需要在特定場(chǎng)景中監(jiān)測(cè)特定接口上的超時(shí)事件，環(huán)境的每個(gè)組件都可以依賴(lài)超時(shí)處理類(lèi)來(lái)設(shè)定超時(shí)的時(shí)刻。讓所有組件都使用超時(shí)處理類(lèi)的相同對(duì)象有助于調(diào)試。
    設(shè)計(jì)模式在芯片驗(yàn)證中的應(yīng)用——單例
  • 設(shè)計(jì)模式在芯片驗(yàn)證中的應(yīng)用——模板方法
    模板方法(Template Method)模式是一種行為設(shè)計(jì)模式， 它在父類(lèi)中定義了一個(gè)功能的框架， 允許子類(lèi)在不修改結(jié)構(gòu)的情況下重寫(xiě)功能的特定步驟。也就是模板方法定義了一組有序執(zhí)行的操作，將一些步驟的實(shí)現(xiàn)留給子類(lèi)，同時(shí)保持整體功能結(jié)構(gòu)。該技術(shù)通常也用于為主要操作提供預(yù)處理和后處理的鉤子(hook)。
    設(shè)計(jì)模式在芯片驗(yàn)證中的應(yīng)用——模板方法
  • 這些數(shù)字IC驗(yàn)證面試題，你都刷過(guò)嗎？
    芯片驗(yàn)證為什么那么重要？IC行業(yè)是智力密集、技術(shù)密集型的行業(yè)，更是高投入、高風(fēng)險(xiǎn)的行業(yè)，做一款芯片僅僅是開(kāi)模的費(fèi)用就是百萬(wàn)起。為了保證芯片功能的正確性和完整性，就需要驗(yàn)證工程師給設(shè)計(jì)或者實(shí)現(xiàn)過(guò)程提供迭代的關(guān)鍵意見(jiàn)。驗(yàn)證在芯片設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)乃至全產(chǎn)業(yè)鏈中的位置都是舉足輕重的。
  • IC驗(yàn)證的主要工作流程和驗(yàn)證工具是什么？
    驗(yàn)證其實(shí)是一個(gè)“證偽”的過(guò)程，從流程到工具，驗(yàn)證工程師的終極目的都只有一個(gè)：發(fā)現(xiàn)所有BUG，或者證明沒(méi)有BUG，以保證芯片功能性能的正確性和可靠性。驗(yàn)證環(huán)節(jié)對(duì)于一顆芯片的重要性也是不言而喻的：·從項(xiàng)目周期來(lái)說(shuō)，功能驗(yàn)證在芯片的整個(gè)設(shè)計(jì)周期中占用時(shí)間最多，大概要占到70%左右?！捻?xiàng)目成本來(lái)說(shuō)，驗(yàn)證一顆芯片大概會(huì)占硬件開(kāi)發(fā)總成本的50%。
    IC驗(yàn)證的主要工作流程和驗(yàn)證工具是什么？
  • 五城研討會(huì)圓滿(mǎn)結(jié)束！從用戶(hù)關(guān)心的問(wèn)題里，我們聽(tīng)到了這些
    4月25日，芯華章線下驗(yàn)證技術(shù)研討會(huì)第五站西安站順利舉行?；顒?dòng)現(xiàn)場(chǎng)，再次吸引了幾十位來(lái)自西安微電子技術(shù)研究所、中興微電子、紫光國(guó)芯、奕斯偉、摩爾線程等眾多驗(yàn)證工程師廣泛參與。至此，歷經(jīng)上海、成都、深圳、北京、西安五地，芯華章線下驗(yàn)證技術(shù)巡回研討會(huì)圓滿(mǎn)結(jié)束。
    五城研討會(huì)圓滿(mǎn)結(jié)束！從用戶(hù)關(guān)心的問(wèn)題里，我們聽(tīng)到了這些
  • 對(duì)話屠寧杰：芯片驗(yàn)證的核心是驗(yàn)證計(jì)劃的有效制定和充分執(zhí)行
    第一季將聚焦于集成電路領(lǐng)域，我會(huì)嘗試對(duì)話該領(lǐng)域不同行業(yè)、不同職位、不同年齡段的從業(yè)者，跨越產(chǎn)學(xué)研用（產(chǎn)業(yè)、高校、科研機(jī)構(gòu)等），囊括研究、設(shè)計(jì)、制造、上下游及資本市場(chǎng)等從業(yè)者，力爭(zhēng)從多維度讓讀者了解到領(lǐng)域的真實(shí)樣貌。
  • 強(qiáng)化多物理測(cè)試平臺(tái)能力 長(zhǎng)電科技提供業(yè)界領(lǐng)先的芯片驗(yàn)證服務(wù)
    長(zhǎng)電科技近日宣布，推出業(yè)界領(lǐng)先的一站式驗(yàn)證測(cè)試平臺(tái)，支持從芯片、封裝、模塊到最終產(chǎn)品的實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，為集成電路產(chǎn)業(yè)鏈上下游深入合作提供更為堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)平臺(tái)，支撐創(chuàng)新性技術(shù)、標(biāo)準(zhǔn)和協(xié)議升級(jí)，以及先進(jìn)工藝的產(chǎn)品研發(fā)與驗(yàn)證。
  • 西門(mén)子推出數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)型 Questa Verification IQ 軟件，助力集成電路驗(yàn)證
    西門(mén)子數(shù)字化工業(yè)軟件日前推出新 Questa? Verification IQ 軟件，面向下一代高性能集成電路 (IC) 的復(fù)雜設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)，提供開(kāi)創(chuàng)性的解決方案。Questa Verification IQ 是一款基于團(tuán)隊(duì)的云端軟件，由數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)并采用人工智能 (AI) 技術(shù)，有助于加速驗(yàn)證收斂、簡(jiǎn)化可追溯性、優(yōu)化資源，促進(jìn)產(chǎn)品上市速度。
  • 后摩爾時(shí)代，十大EDA驗(yàn)證技術(shù)趨勢(shì)展望
    過(guò)去的四十年里面，不斷發(fā)展的工藝和架構(gòu)設(shè)計(jì)共同推動(dòng)著摩爾定律持續(xù)前進(jìn)，即使是今天也還有3nm、2nm、1nm先進(jìn)工藝在地平線上遙遙可及。但是現(xiàn)實(shí)趨勢(shì)來(lái)看，更高工藝、更多核、更大的芯片面積已經(jīng)不能帶來(lái)過(guò)去那種成本、性能、功耗的全面優(yōu)勢(shì)，摩爾定律確實(shí)是在進(jìn)入一個(gè)發(fā)展平臺(tái)期，也意味著我們進(jìn)入了“后摩爾時(shí)代”。 半導(dǎo)體設(shè)計(jì)產(chǎn)業(yè)開(kāi)始不僅是通過(guò)工藝的提升，而是更多考慮系統(tǒng)、架構(gòu)、軟硬件協(xié)同等，從系統(tǒng)來(lái)導(dǎo)向、從
  • 新手芯片驗(yàn)證工程師如何快速提高自己的水平？
    看了不少回答，都在強(qiáng)調(diào)如何使用uvm的。UVM/SV屬于工具范疇，工具用的熟不熟練，當(dāng)然非常重要，但是脫離了芯片本身討論工具未免有些本末倒置。
  • 疾跑的國(guó)產(chǎn)EDA：如何越過(guò)芯片驗(yàn)證關(guān)山？
    “你驗(yàn)完了沒(méi)有？”“芯片還存不存在bug？”這是芯片驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)經(jīng)常直面的兩個(gè)靈魂問(wèn)題，這樣的問(wèn)題，實(shí)際上也是對(duì)EDA驗(yàn)證能力的拷問(wèn)。
  • 芯華章：應(yīng)用牽引，立足創(chuàng)新，構(gòu)建芯片驗(yàn)證新生態(tài)
    基于目前EDA流程，芯片設(shè)計(jì)還是避免不了要碰到三大痛點(diǎn)

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