芯片驗(yàn)證

• FAB廠可靠性考核如何理解？以90納米技術(shù)節(jié)點(diǎn)為例

  可靠性考核是芯片量產(chǎn)前的"極限壓力測(cè)試"，本質(zhì)是驗(yàn)證芯片在極端環(huán)境下的生存能力與性能衰減規(guī)律。對(duì)于90納米技術(shù)節(jié)點(diǎn)，由于器件尺寸縮小帶來(lái)的量子隧穿效應(yīng)、熱載流子注入等問(wèn)題加劇，可靠性考核需建立更嚴(yán)苛的評(píng)估體系，如同檢驗(yàn)汽車發(fā)動(dòng)機(jī)能否在沙漠高溫和極地嚴(yán)寒中穩(wěn)定運(yùn)行。

  老虎說(shuō)芯

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  02/24 09:55

  fabless 芯片驗(yàn)證
• 一文詳解芯片驗(yàn)證工程師主要工作任務(wù)、工作工具和方法

  芯片設(shè)計(jì)完成后，驗(yàn)證工程師的任務(wù)就是檢查電路是否按設(shè)計(jì)要求正確工作。他們需要通過(guò)各種驗(yàn)證手段，確認(rèn)芯片的功能、性能、時(shí)序等方面沒(méi)有問(wèn)題。以下是他們的主要任務(wù)：

  老虎說(shuō)芯

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  02/05 14:54

  芯片工程師 芯片驗(yàn)證
• 漲薪50%！驗(yàn)證工程師的進(jìn)階之路！

  簡(jiǎn)單介紹一下自己，我是22屆的成都某雙非院校的電子信息畢業(yè)生。現(xiàn)在從事驗(yàn)證已經(jīng)快兩年，這里想和大家分享一些入行驗(yàn)證后的經(jīng)驗(yàn)和心得?；叵氘?dāng)初快畢業(yè)了，對(duì)自己何去何從很是迷茫，電子信息本科學(xué)的東西突出一個(gè)泛泛又雜，幾乎沒(méi)有一點(diǎn)是精通的，在就業(yè)市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力非常小。我有幸通過(guò)IC修真院了解到IC行業(yè)當(dāng)時(shí)的火爆，并成功搭上了IC這條船。

  IC修真院

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  2024/11/28

  芯片驗(yàn)證 IC行業(yè)

  
• 如何寫出更牛的驗(yàn)證激勵(lì)

  芯片驗(yàn)證是為了發(fā)現(xiàn)芯片中的錯(cuò)誤而執(zhí)行的過(guò)程，它是一個(gè)破壞性的過(guò)程。完備的驗(yàn)證激勵(lì)可以更有效地發(fā)現(xiàn)芯片錯(cuò)誤，進(jìn)而縮短驗(yàn)證周期。合格的驗(yàn)證激勵(lì)必須能產(chǎn)生所有可能的驗(yàn)證場(chǎng)景(完備性)，包括合法和非法的場(chǎng)景，并保持最大的可擴(kuò)展性和可控性。

  專芯致志er

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  2024/10/08

  芯片驗(yàn)證

  
• 如何寫出更系統(tǒng)的驗(yàn)證檢查器

  芯片驗(yàn)證是為了發(fā)現(xiàn)芯片中的錯(cuò)誤而執(zhí)行的過(guò)程，它是一個(gè)破壞性的過(guò)程。有效激勵(lì)灌入待測(cè)模塊后，需要判斷出不符合功能描述的行為。檢查器(Checker)就是用于查看待測(cè)模塊是否按照功能描述文檔做出期望的行為，識(shí)別出所有的設(shè)計(jì)缺陷。

  專芯致志er

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  2024/10/08

  芯片驗(yàn)證

  
• 設(shè)計(jì)模式在芯片驗(yàn)證中的應(yīng)用——狀態(tài)

  狀態(tài)模式是一種行為設(shè)計(jì)模式， 讓你能在一個(gè)對(duì)象的內(nèi)部狀態(tài)變化時(shí)改變其行為， 使其看上去就像改變了自身所屬的類一樣。

  專芯致志er

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  2024/08/19

  芯片驗(yàn)證

  
• 什么是芯片驗(yàn)證 芯片驗(yàn)證是做什么的 數(shù)字芯片驗(yàn)證流程

  芯片驗(yàn)證就是采用相應(yīng)的驗(yàn)證語(yǔ)言，驗(yàn)證工具，驗(yàn)證方法，在芯片生產(chǎn)之前驗(yàn)證芯片設(shè)計(jì)是否符合芯片定義的需求規(guī)格，是否已經(jīng)完全釋放了風(fēng)險(xiǎn)，發(fā)現(xiàn)并更正了所有的缺陷，站在全流程的角度，它是一種防范于未然的措施。

  知芯情報(bào)局

  2.9萬(wàn)

  2024/07/08

  芯片驗(yàn)證
• 設(shè)計(jì)模式在芯片驗(yàn)證中的應(yīng)用——策略

  在RTL設(shè)計(jì)中可能包含了復(fù)雜的多個(gè)訪問(wèn)仲裁邏輯，使用了多種算法來(lái)確定訪問(wèn)內(nèi)存優(yōu)先級(jí)順序，包括規(guī)定優(yōu)先級(jí)、輪詢仲裁等等。仲裁器的輸入是多個(gè)請(qǐng)求者信號(hào)，以及選擇要使用的仲裁算法的配置。根據(jù)選擇的類型和請(qǐng)求者信號(hào)的值，仲裁器確定具有最高優(yōu)先級(jí)的請(qǐng)求源，并授予它訪問(wèn)內(nèi)存的權(quán)利。如下圖所示，仲裁類型可以動(dòng)態(tài)配置，這就是為什么該特性適合使用策略設(shè)計(jì)模式進(jìn)行建模。在該模式中，可以在testcase運(yùn)行中從提供的一系列算法中選擇要應(yīng)用的特定算法。此外，還可以直接為仲裁添加新算法，而無(wú)需修改之前代碼。值得注意的是，之前講到的裝飾器設(shè)計(jì)模式也可用于動(dòng)態(tài)更改行為，關(guān)鍵的區(qū)別在于，裝飾器模式在原功能基礎(chǔ)上添加額外的功能，而策略者模式直接更改原先功能?？偟脕?lái)說(shuō)，策略模式可以讓你改變對(duì)象的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，裝飾器模式允許你更改對(duì)象的皮膚。

  專芯致志er

  1712

  2024/06/12

  芯片驗(yàn)證 rtl

  
• 設(shè)計(jì)模式在芯片驗(yàn)證中的應(yīng)用——單例

  單例模式(Singleton)是一種創(chuàng)建型設(shè)計(jì)模式，能夠保證一個(gè)類只有一個(gè)實(shí)例， 并提供一個(gè)訪問(wèn)該實(shí)例的全局節(jié)點(diǎn)。驗(yàn)證環(huán)境配置(configuration)類、超時(shí)(timeout)處理類等可以使用單例實(shí)現(xiàn)。比如說(shuō)驗(yàn)證環(huán)境需要在特定場(chǎng)景中監(jiān)測(cè)特定接口上的超時(shí)事件，環(huán)境的每個(gè)組件都可以依賴超時(shí)處理類來(lái)設(shè)定超時(shí)的時(shí)刻。讓所有組件都使用超時(shí)處理類的相同對(duì)象有助于調(diào)試。

  專芯致志er

  1012

  2024/06/12

  芯片驗(yàn)證

  
• 設(shè)計(jì)模式在芯片驗(yàn)證中的應(yīng)用——模板方法

  模板方法(Template Method)模式是一種行為設(shè)計(jì)模式， 它在父類中定義了一個(gè)功能的框架， 允許子類在不修改結(jié)構(gòu)的情況下重寫功能的特定步驟。也就是模板方法定義了一組有序執(zhí)行的操作，將一些步驟的實(shí)現(xiàn)留給子類，同時(shí)保持整體功能結(jié)構(gòu)。該技術(shù)通常也用于為主要操作提供預(yù)處理和后處理的鉤子(hook)。

  專芯致志er

  1805

  2024/05/28

  芯片驗(yàn)證

  

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