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  • 尼得科精密檢測科技參展PCIM Expo & Conference 2025
    尼得科精密檢測科技株式會(huì)社(以下簡稱“本公司”)將參展2025年5月6日(星期二)~5月8日(星期四)在德國紐倫堡市舉辦的“PCIM Expo & Conference 2025”。 在本次展會(huì)上,電力電子行業(yè)將匯聚一堂,旨在跨越國界共同探索最新的研發(fā)趨勢,整個(gè)行業(yè)共同分享創(chuàng)意,提供解決方案。 本公司在本次展會(huì)上將展示從芯片(Chip)級(jí)到系統(tǒng)級(jí)面向功率器件的先端檢測系統(tǒng)。此外,還將現(xiàn)場實(shí)
    尼得科精密檢測科技參展PCIM Expo & Conference 2025
  • die,device和chip的定義和區(qū)別
    1. Die的定義 在半導(dǎo)體制造過程中,Die指的是一塊未分割成單獨(dú)芯片的硅片。它包含了一個(gè)完整的集成電路設(shè)計(jì),但尚未進(jìn)行切割和封裝。 特點(diǎn) 集成度高:Die上包含了完整的電路設(shè)計(jì),包括電路元件、線路和連接器等。 未被封裝:Die尚未被切割出來形成獨(dú)立的芯片,因此不能直接用于實(shí)際應(yīng)用。 2. Device的定義 Device通常指的是封裝后的芯片,也稱為器件。它是將Die封裝在外殼中,以便與其他電
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    02/24 13:46

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