IC測(cè)試

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任何一塊集成電路都是為完成一定的電特性功能而設(shè)計(jì)的單片模塊，IC測(cè)試就是集成電路的測(cè)試，就是。如果存在無缺陷的產(chǎn)品的話，集成電路的測(cè)試也就不需要了。由于實(shí)際的制作過程所帶來的以及材料本身或多或少都有的缺陷，因而無論怎樣完美的產(chǎn)品都會(huì)產(chǎn)生不良的個(gè)體，因而測(cè)試也就成為集成電路制造中不可缺少的工程之一。

任何一塊集成電路都是為完成一定的電特性功能而設(shè)計(jì)的單片模塊，IC測(cè)試就是集成電路的測(cè)試，就是。如果存在無缺陷的產(chǎn)品的話，集成電路的測(cè)試也就不需要了。由于實(shí)際的制作過程所帶來的以及材料本身或多或少都有的缺陷，因而無論怎樣完美的產(chǎn)品都會(huì)產(chǎn)生不良的個(gè)體，因而測(cè)試也就成為集成電路制造中不可缺少的工程之一。收起

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  • Handler（分選機(jī)）
    在集成電路(Integrated Circuit, IC)測(cè)試中，Handler（分選機(jī)）就像是一個(gè)自動(dòng)化的挑選和運(yùn)送系統(tǒng)。Handler的角色：可以把Handler想象成一個(gè)大型工廠的自動(dòng)化物流系統(tǒng)。它的主要工作是處理IC芯片的運(yùn)輸，將這些芯片從一個(gè)地方運(yùn)送到測(cè)試區(qū)域，然后根據(jù)測(cè)試結(jié)果將它們分類并放置到相應(yīng)的“倉(cāng)庫”。運(yùn)作流程如下：
    Handler（分選機(jī)）
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    IC測(cè)試鍵（Test Key）是集成電路（IC）測(cè)試中的重要概念。IC測(cè)試鍵可以看作是芯片設(shè)計(jì)中的“窗口”或“探針點(diǎn)”，這些特定位置的電路接口，能夠讓你在制造或測(cè)試階段“窺探”芯片內(nèi)部的運(yùn)作情況。它們主要是用于測(cè)量和驗(yàn)證芯片性能和可靠性的電氣點(diǎn)。測(cè)試鍵的設(shè)計(jì)和布局通常根據(jù)芯片的功能、結(jié)構(gòu)、以及制造工藝的需要進(jìn)行調(diào)整。
    IC測(cè)試鍵（Test Key）

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