作者:豐寧
DRAM制程如何突破?10nm?這曾是困擾行業(yè)的共同課題。
近日,SK海力士帶來了它的答案。
本周,2025年IEEE VLSI?研討會在日本東京舉行,會議上SK海力士提出了未來30年的新?DRAM?技術路線圖。
SK?海力士表示,4F2?VG和3D DRAM技術將應用于10nm及以下級內存。
至于10nm DRAM如何成為制程技術的難點?未來30年DRAM市場為什么依賴3D?4F2?VG技術又是什么?筆者在下文一一說明。
?01、1c DRAM,龍頭齊聚
一直以來,各大內存廠商將上一代DRAM芯片按照1X、1Y、1Z進行工藝區(qū)分,1Xnm工藝相當于16-19nm制程工藝、1Ynm相當于14-16nm制程工藝,1Znm工藝相當于12-14nm制程工藝。而新一代的1a、1b和1c則分別代表14-12nm、12-10nm以及10nm及以下制程工藝。
為什么說10nm,是DRAM技術進程中的絆腳石?
隨著10nm制程的臨近,使其在晶圓上定義電路圖案已經接近基本物理定律的極限。由于工藝完整性、成本、單元泄漏、電容、刷新管理和傳感裕度等方面的挑戰(zhàn),DRAM存儲單元的縮放正在放緩。
法國分析機構Yole指出,即使通過光刻EUV?工藝,平面縮放也不足以在整個下一個十年提供所需的位密度改進。
1c DRAM及接下來的發(fā)展很難,但這扇大門已被存儲三大原廠叩響。
去年8月,SK海力士宣布完成第六代10nm級(1c)工藝DRAM?開發(fā)。當時SK海力士就曾強調:隨著10nm級DRAM技術的世代相傳,微細工藝的難度也隨之加大。其中需要注意的一個點是,早在2021年SK海力士就已經開始將EUV應用于其10nm級第四代DRAM。
今年2月,美光宣布已向生態(tài)系統合作伙伴及特定客戶出貨專為下一代?CPU?設計的?1γ(1-gamma)第六代(10?納米級)DRAM?節(jié)點?DDR5?內存樣品。
三星的第六代10納米級1c DRAM制程開發(fā)進度出現了延遲,預計完成時間從2024年年底推遲至2025年6月。這也意味著,本月或許就能看到三星新成果的推出。
此前韓媒報道,在下一代的HBM4內存開發(fā)上,三星和SK海力士正計劃使用1c制程的DRAM。
而隨著1c納米制程DRAM?商業(yè)化,EUV光刻制造成本將快速攀升。現在來看,1c?DRAM技術的發(fā)展似乎變得緊迫起來。接下來該怎么走?如何走?
3D DRAM便是那個最被看好的選手。
3D DRAM可降低成本、最大限度地降低功耗并提高速度。
SK?海力士表示,采用VG?或3D DRAM?制程設計,可將EUV?制程成本降一半。
上圖可見,再往后的10nm以下節(jié)點,將分別命名為0a、0b、0c、0d,其中打頭的0a工藝預計2027年底-2028年初量產(月產能超過2萬塊晶圓),0d則要到2032年。
如果說2030年DRAM市場將高度依賴3D,毫不夸張。
那么,4F2?VG DRAM技術又是什么?
4F2?VG DRAM的設計靈感來源于NAND閃存,采用了混合鍵合技術。這是一種經過大量研究的單元陣列結構,其中晶體管以垂直方式堆疊,也就是3D DRAM。三星將這種3D DRAM?稱為“垂直通道晶體管”(vertical channel transistor,簡稱VCT)。
4F2結構從下而上依序為源極(source)、閘極(gate)、汲極(drain)和電容器(capacitor)。字元線(Word Line)連接到閘極,位元線(Bit Line)則連接到源極。
4F2?VG?將傳統?DRAM?中的平面柵極結構調整為垂直方向,可最大限度減少單一數據存儲單元的面積占用,同時有助于實現高集成度、高速度和低功耗。
那么4F2是如何由來的呢?是否存在6F2和8F2?是的。
8F2?:如上圖所示,早期DRAM采用8F2 RCAT結構,位線跨4格,字線跨2格,總面積8F2(F為最小特征尺寸),但源極無法直接與字線連接,需留白,單元實際占4格位線寬度。雖結構簡單,位線與字線留白卻限制存儲密度提升。
6F2?:自130納米及以下制程起,6F2 BCAT結構登場,單元布局優(yōu)化為位線3格、字線2格,大幅提升單元密度。然而,隨線路寬度縮小到10納米級,物理極限致電流泄漏、信號干擾頻發(fā),平面棋盤格排列單元難以為繼。
4F2:為高效利用有限面積,豎起水平排列單元或垂直堆疊單元陣列成必然選擇。4F2結構將源極、柵極、漏極轉為垂直結構,下層源極接位線,其上柵極連字線,再往上堆疊漏極與電容器,減少電氣干擾,面積縮小約30%。
不過4F2結構的內存芯片早在10多年前就有研發(fā)了,剛進入DDR3時代就有廠商計劃使用,只是一直沒有取得實際的進展,制造難度也非常大。
?02、三星,也緊盯4F2?DRAM
盯上4F2?DRAM的,可不只是SK海力士。
早在2023年,三星就組建了一個開發(fā)團隊,目的是進一步推進4F2結構DRAM的應用,并將其量產應用于10納米以下的DRAM制程。
三星電子表示,多家公司正致力于將技術過渡至4F2 垂直通道晶體管?DRAM,但需要克服一些技術上的挑戰(zhàn),包括開發(fā)氧化物通道材料和鐵電體等新材料。業(yè)內人士認為,三星計劃?2025?年即將推出的?4F2?DRAM?的首批樣品可能僅僅是內部發(fā)布試制樣品。半導體設備制造商東京電子則估計,采用?VCT?和?4F2 技術的?DRAM?將在?2027?年至?2028?年間問世。
相較于在DRAM單元結構上向z方向發(fā)展的VCT DRAM,三星電子還聚焦在VS-CAT(Vertical Stacked-Cell Array Transistor,垂直堆疊單元陣列晶體管)DRAM上,該技術類似3D NAND一樣堆疊多層DRAM。
除通過堆疊提升容量外,VS-CAT DRAM?還能降低電流干擾。三星電子預計其將采用存儲單元和外圍邏輯單元分離的雙晶圓結構,因為延續(xù)傳統的單晶圓設計會帶來嚴重的面積開銷。
在分別完成存儲單元晶圓和邏輯單元晶圓的生產后,需要進行晶圓對晶圓(W2W)混合鍵合,才能得到?VS-CAT DRAM成品。
據悉,目前三星電子已在內部實現了16層堆疊的VS-CAT DRAM。
?03、有了HBM,就足夠了?
讀到這里,可能有讀者會問:HBM?不也是?3D DRAM?嗎?用HBM不就夠了嗎?為什么還要研究3D?答案是單單依賴HBM,還存在不足。
最直觀的兩點:1、HBM產量不足。2、HBM成本過高。
通往3D?DRAM,主要有這樣兩條路徑,HBM采用的是最直接的方法,垂直堆疊多個?DRAM?芯片,并使用硅通孔(TSV)技術垂直連接各層芯片,各層?DRAM?通過微凸點與邏輯芯片相連。
常見的HBM芯片為4和8高以及16高,與基本?DRAM?相比,這是一種更昂貴的方法,因為在封裝中堆疊die需要付出努力,但對于需要大量附近內存的應用程序,如AI,這是值得的。
另一種方式是單片堆疊?DRAM,將多個?DRAM?芯片堆疊在一起,但連接方式可能有所不同。部分單片堆疊技術采用混合鍵合技術,兩個晶圓的金屬鍵合焊盤以及相鄰介電材料直接連接,這種方式下沒有?HBM?結構中芯片之間的導電凸塊,且存儲器芯片厚度更薄,堆疊高度整體降低。
作為一種自然延伸,單片堆疊芯片只需少量額外步驟,自然這少量的額外步驟也會導致很多困難。
?04、3D DRAM,2030年見分曉
有機構預測,到2030?年,全球?3D DRAM?市場規(guī)模有望增長到?1000?億美元。
正是看到了這樣的發(fā)展前景,以存儲芯片三巨頭為代表的廠商都在發(fā)力,進行相關技術和產品的研發(fā)。其中三星對該技術最為關注的,投入也最大。
三星通過VCT技術將晶體管垂直排列,使單元面積縮小30%,并結合鉿鋯氧化物(HZO)材料優(yōu)化電荷存儲性能。目前其已成功研發(fā)128Gb容量的3D X-DRAM樣品,目標2030年前將單顆芯片容量擴展至1Tb。
據悉,三星電子在美國硅谷開設了一個新的研發(fā)實驗室,主要進行3D DRAM?研發(fā)。據悉,該實驗室隸屬于硅谷的?Device Solutions America (DSA)?部門,負責監(jiān)督三星電子在美國的半導體生產,并專注于新一代?DRAM?產品的開發(fā)。
除了要在2025?年量產,三星電子還要在?2027~2028?年將相關制程節(jié)點縮小到?8nm~9nm,目前,最先進的?DRAM?制程約為?12nm。
SK海力士去年在“VLSI 2024”大會上展示了5層堆疊3D DRAM原型,并宣布實現了56.1%的良率。
其研究論文,指出實驗中的3D DRAM顯示出與目前使用的2D DRAM相似的特性,這是海力士首次披露其3D DRAM開發(fā)的具體數據和運行特性。此外,海力士還在研究將IGZO材料應用于3D DRAM,以解決帶寬和延遲方面的挑戰(zhàn)。IGZO是由銦、鎵、氧化鋅組成的金屬氧化物材料,大致分為非晶質IGZO和晶化IGZO。
美光在2019年就開始了3D DRAM的研究工作。截止2022年8月,美光已獲得了30多項3D DRAM專利。相比之下,美光專利數量是三星和SK海力士這兩家韓國芯片制造商的兩三倍。美光于?2023?年末在?IEEE IEDM?會議上披露了其?32Gb 3D NVDRAM(非易失性?DRAM)研發(fā)成果。不過根據外媒?Blocks & Files?從兩位受采訪的行業(yè)分析師處得到的消息,這一突破性的新型內存基本不可能走向商業(yè)化量產道路,但其展現的技術進展有望出現在未來內存產品之中。
除了大廠,有些創(chuàng)業(yè)公司也在進行3D DRAM?開發(fā)。
例如,美國公司NEO Semiconductor?推出了一種名為?3D X-DRAM?的技術,旨在克服?DRAM?的容量限制。3D X-DRAM?的單元陣列結構類似于?3D NAND Flash,采用了?FBC?技術,它可以通過添加層掩模形成垂直結構,從而實現高良率、低成本和顯著的密度提升。
據NEO 介紹,3D X-DRAM 技術可以跨 230 層實現 128Gb 的密度,是當前 DRAM 密度的 8 倍。NEO 提出了每 10 年容量增加 8 倍的目標,計劃在 2030~2035 年實現 1Tb 的容量,比目前 DRAM 的容量增加 64 倍。