雙脈沖測(cè)試

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  • 用Python自動(dòng)化雙脈沖測(cè)試
    電力電子設(shè)備中使用的半導(dǎo)體材料正從硅過渡到寬禁帶（WBG）半導(dǎo)體，比如碳化硅（SiC）和氮化鎵（GaN）等半導(dǎo)體在更高功率水平下具有卓越的性能，被廣泛應(yīng)用于汽車和工業(yè)領(lǐng)域中。由于工作電壓高，SiC技術(shù)正被應(yīng)用于電動(dòng)汽車動(dòng)力系統(tǒng)，而GaN則主要用作筆記本電腦、移動(dòng)設(shè)備和其他消費(fèi)設(shè)備的快速充電器。本文主要說明的是寬禁帶FET的測(cè)試，但雙脈沖測(cè)試也可應(yīng)用于硅器件、MOSFET或IGBT中。 為確保這些設(shè)
    用Python自動(dòng)化雙脈沖測(cè)試
  • 什么是雙脈沖測(cè)試技術(shù)
    雙脈沖測(cè)試技術(shù)（Double Pulse Testing）是一種用于評(píng)估功率半導(dǎo)體器件（如MOSFET、IGBT等）開關(guān)特性的方法。這種技術(shù)通過同時(shí)施加兩個(gè)短脈沖信號(hào)來測(cè)量器件的開關(guān)行為和性能。 基本原理： 在雙脈沖測(cè)試中，首先向待測(cè)的功率半導(dǎo)體器件施加一個(gè)預(yù)充電脈沖，然后在一定延遲時(shí)間后再施加一個(gè)主開關(guān)脈沖。這樣的測(cè)試可以模擬實(shí)際應(yīng)用中的開關(guān)過程。 測(cè)量參數(shù)： 雙脈沖測(cè)試通常用于測(cè)量器件的導(dǎo)通損
  • 雙脈沖測(cè)試的原理及測(cè)試技巧
    雙脈沖測(cè)試是一種用于評(píng)估焊接質(zhì)量和焊接工藝參數(shù)的重要方法。通過測(cè)量焊接電流波形的特定時(shí)間間隔內(nèi)的兩個(gè)脈沖，該技術(shù)可以提供有關(guān)焊接過程中熔池形成、穩(wěn)定性和質(zhì)量的關(guān)鍵信息。本文將深入探討雙脈沖測(cè)試的原理、應(yīng)用以及一些測(cè)試技巧。

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