JTAG接口

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JTAG接口(Joint Test Action Group，聯(lián)合測試工作組)，是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片內(nèi)部測試?，F(xiàn)在多數(shù)的高級器件都支持JTAG協(xié)議，如DSP、FPGA器件等。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線：TMS、TCK、TDI、TDO，分別為模式選擇、時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。

JTAG接口(Joint Test Action Group，聯(lián)合測試工作組)，是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片內(nèi)部測試。現(xiàn)在多數(shù)的高級器件都支持JTAG協(xié)議，如DSP、FPGA器件等。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線：TMS、TCK、TDI、TDO，分別為模式選擇、時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。收起

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    JTAG（Joint Test Action Group）調(diào)試接口是一種標(biāo)準(zhǔn)化的硬件接口協(xié)議，最初設(shè)計用于電子設(shè)備的測試和診斷。隨著技術(shù)的發(fā)展，JTAG接口不僅在集成電路生產(chǎn)測試中得到廣泛應(yīng)用，還被用于FPGA（Field Programmable Gate Array）等可編程邏輯器件的調(diào)試和配置。本文將探討JTAG調(diào)試接口的定義、工作原理以及在FPGA調(diào)試中的重要用途。

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