監(jiān)測器

• CMOS可靠性測試新趨勢：脈沖技術(shù)如何助力AI、5G、HPC？

  在半導(dǎo)體領(lǐng)域，隨著技術(shù)的不斷演進，對CMOS（互補金屬氧化物半導(dǎo)體）可靠性的要求日益提高。特別是在人工智能（AI）、5G通信和高性能計算（HPC）等前沿技術(shù)的推動下，傳統(tǒng)的可靠性測試方法已難以滿足需求。本文將探討脈沖技術(shù)在CMOS可靠性測試中的應(yīng)用，以及它如何助力這些新興技術(shù)的發(fā)展。 引言 對于研究半導(dǎo)體電荷捕獲和退化行為而言，交流或脈沖應(yīng)力是傳統(tǒng)直流應(yīng)力測試的有力補充。在NBTI（負(fù)偏置溫度不穩(wěn)

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  04/08 08:40

  CMOS 模擬電路

  

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