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為什么要用高k材料做柵介質(zhì)層材料?

2024/08/09
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知識星球(星球名:芯片制造與封測技術(shù)社區(qū),星球號:63559049)里的學(xué)員問:柵介質(zhì)層是如何發(fā)展的?為什么先進(jìn)制程用高k材料做柵介質(zhì)層?

先進(jìn)節(jié)點(diǎn)用什么做柵介質(zhì)層?

技術(shù)節(jié)點(diǎn) 結(jié)構(gòu)特點(diǎn) High-k
介質(zhì)
nMOS pMOS
45 nm Planar HfO?/ZrO HfO?/ZrO
32 nm Planar HfO? HfO?
22 nm FinFET/Tri-gate HfO? HfO?
14 nm FinFET/Tri-gate HfO? HfO?

如上表,45nm 及以下節(jié)點(diǎn),采用HKMG(High-k Metal Gate)工藝,使用高k材料做柵介質(zhì)層;45nm以上的節(jié)點(diǎn),主要使用氧化硅做柵介質(zhì)層。

什么是柵介質(zhì)層?

如上圖,圖中位于上方的灰色區(qū)域表示柵極(gate),通過施加電壓在柵極,控制源極和漏極之間的電流溝道形成與否。柵極下面的淺黃色層表示柵介質(zhì)層,隔離柵極和單晶基底,防止二者有直接電流導(dǎo)通。

什么是柵極漏電流?

隨著工藝節(jié)點(diǎn)的縮小,芯片尺寸減小,柵氧化層不斷變薄,當(dāng)柵介質(zhì)層非常薄(小于2nm)或高電壓時,電子通過隧穿效應(yīng)穿過介質(zhì)層,導(dǎo)致柵極和基底之間存在漏電流。

漏電流會導(dǎo)致的問題?

芯片功耗增加,發(fā)熱量增加,開關(guān)速度降低。如在邏輯電路中,漏電流會導(dǎo)致門級邏輯電路中的電平漂移。

為什么要用高k材料?

高k介質(zhì)材料具有比傳統(tǒng)的SiO?更高的介電常數(shù)(k值)。高k介質(zhì)種類有:

高k材料 介電常數(shù)
氧化鉿HfO?2 25
氧化鈦TiO?2 30-80
氧化鋯ZrO?2 25
五氧化二鉭 Ta?2?O?5 25-50
鈦酸鋇鍶BST 100-800
鈦酸鍶STO 230+
鈦酸鉛PZT 400-1500

電容公式:?C=??Ad = (ep此iln c處ot fr略c{A去d)?d 是介電常數(shù),AA是電容器的面積,dd是介電層的厚度。如公式所示,在C一定時,?越大,A/d的比值可以更小。即使用高k介質(zhì),可以在保持電容的同時,增加介電層的厚度d。高 k 材料的物理厚度是氧化硅的 3~6 倍多,因?yàn)殡娮铀泶╇娏髋c絕緣層厚度成指數(shù)關(guān)系,這將顯著減小柵介質(zhì)層的量子隧穿效應(yīng),從而有效的改善柵極漏電流。

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